日本電波工業(yè)株式會社作為晶體元器件的專業(yè)生產(chǎn)廠家，以“通過對客戶的服務(wù)，為社會繁榮和世界和平作出貢獻(xiàn)”的創(chuàng)業(yè)理念為基礎(chǔ)于1948年成立。創(chuàng)造利益，提升企業(yè)價值的同時，為了繼續(xù)提升企業(yè)的價值，我們認(rèn)為維持經(jīng)營的透明性，確實盡到對各位股份持有者說明的責(zé)任這樣的公司治理的構(gòu)筑必不可少，我們把其放在經(jīng)營最重要的課題之一的位置。進(jìn)口金屬面2016mm石英晶振,SMD型高精度無源晶體,NX2016SA晶振

NDK晶振,石英晶振,NX2016SA晶振,日本知名的晶體元器件生產(chǎn)廠家,主要生產(chǎn)小體積SMD型的金屬外殼石英晶振和陶瓷表面的壓電石英晶體,其中最多客戶使用的是NX2016SA晶振,因為這顆晶體的尺寸極小只有2.0*1.6mm,而且標(biāo)準(zhǔn)的精度是±15ppm,負(fù)載電容是8pF,性能優(yōu)越應(yīng)用在任何智能科技產(chǎn)品上都可以發(fā)揮出優(yōu)良的電氣特性.

操作
請勿用鑷子或任何堅硬的工具，夾具直接接觸IC的表面。NDK晶振,石英晶振,NX2016SA晶振
使用環(huán)境（溫度和濕度）
請在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)使用耐高溫晶振。這個溫度涉及本體的和季節(jié)變化的溫度。在高濕環(huán)境下，會由于凝露引起故障。請避免凝露的產(chǎn)生。
激勵功率
在晶體單元上施加過多驅(qū)動力，會導(dǎo)致石英晶振特性受到損害或破壞。電路設(shè)計必須能夠維持適當(dāng)?shù)募罟β?（請參閱“激勵功率”章節(jié)內(nèi)容）。
負(fù)極電阻
除非振蕩回路中分配足夠多的負(fù)極電阻，否則振蕩或振蕩啟動時間可能會增加（請參閱“關(guān)于振蕩”章節(jié)內(nèi)容）。
負(fù)載電容
振蕩電路中負(fù)載電容的不同，可能導(dǎo)致石英晶體諧振器振蕩頻率與設(shè)計頻率之間產(chǎn)生偏差。試圖通過強(qiáng)力調(diào)整，可能只會導(dǎo)致不正常的振蕩。在使用之前，請指明該振動電路的負(fù)載電容（請參閱“負(fù)載電容”章節(jié)內(nèi)容）。進(jìn)口金屬面2016mm石英晶振,SMD型高精度無源晶體,NX2016SA晶振

振蕩電路的檢查方法
振蕩頻率測量必須盡可能地測量安裝在電路上的諧振器的振蕩頻率的真實值，使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中，通常使用探頭和頻率計數(shù)器。然而,我們的目標(biāo)是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。NDK晶振,石英晶振,NX2016SA晶振
有三種頻率測量模式，如下面的圖所示（圖）。2, 3和4）。最精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現(xiàn)的。
接觸振蕩電路。
探針不影響圖2，因為緩沖器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。
逆變器進(jìn)入下一階段。
探針不影響圖3，因為在IC上測量緩沖器輸出（1/1、1/2等）。
圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況，由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。
輸出點之間的電容（3 pF以下XTAL終端IC）和探針。
然而，應(yīng)該注意到，使用這種方法輸出波形較小，測量不能依賴于
即使示波器能檢查振蕩波形，頻率計數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下，使用放大器來測量。進(jìn)口金屬面2016mm石英晶振,SMD型高精度無源晶體,NX2016SA晶振

此外，振蕩頻率與測量點不同。
1、測量緩沖輸出
2、振蕩級輸出測量
三.通過電容器測量振蕩級輸出

圖5示出以上1-3個測量點和所測量的
除緩沖器輸出外，振蕩頻率較低。