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GEYER晶振,貼片晶振,KX-327S晶振,石英進口晶振
頻率：32.768KHZ
尺寸：8.0*3.8mm
GEYER ELECTRONIC成立于1964年,總部位于慕尼黑/德國.幾十年來，GEYER ELECTRONIC一直是頻率產品，石英晶體，振蕩器和陶瓷諧振器的領先制造商之一。另外，我們還生產品牌電池，蓄電池（可充電電池）和負載技術。最高的質量，創造力和安全性是我們創新解決方案的特點。
我們是32.768K頻率控制產品（晶體和振蕩器）的國際供應商，并且要求特殊電池。我們穩步成長的中型企業的總部位于慕尼黑附近的Gr?felfing，我們在美國，新加坡，印度也在英國和匈牙利設有辦事處。我們的客戶包括電力行業和汽車制造商。我們在充滿活力的公司中提供有趣和多樣的工作環境和多樣化的設計可能性。我們一直在尋找以下領域的初學者，專家和管理人員：開發 - 電子，射頻，數字和模擬- 物流- 管理-銷售及內部和外部客戶服務.陶瓷面封裝晶振,32.768KHZ頻點晶體,KX-327S晶振
GEYER晶振,貼片晶振,KX-327S晶振,石英進口晶振,小型表面貼片晶振型,是標準的石英晶體諧振器,適用于寬溫范圍的電子數碼產品,家電電器及MP3,MP4,播放器,單片機等領域.可對應32.768KHZ以上的頻率,在電子數碼產品,以及家電相關電器領域里面發揮優良的電氣特性,滿足無鉛焊接的回流溫度曲線要求.
貼片晶振晶片邊緣處理技術：石英晶振是晶片通過滾筒倒邊，主要是為了去除石英晶振晶片的邊緣效應，在實際操作中機器運動方式設計、滾筒的曲率半徑、滾筒的長短、使用的研磨砂的型號、多少、填充物種類及多少等各項設計必須合理，有一項不完善都會使晶振晶片的邊緣效應不能去除，而石英晶振晶片的諧振電阻過大，用在電路中Q值過小，從而電路不能振動或振動了不穩定。陶瓷面封裝晶振,32.768KHZ頻點晶體,KX-327S晶振
|
GEYER晶振 |
單位 |
KX-327S晶振 |
石英晶振基本條件 |
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標準頻率 |
f_nom |
32.768KHZ |
標準頻率 |
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儲存溫度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
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工作溫度 |
T_use |
-20°C~+85°C |
標準溫度 |
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激勵功率 |
DL |
50μW Max. |
推薦:100μW |
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頻率公差 |
f_— l |
±5,10,20× 10-6 |
+25°C 對于超出標準的規格說明, |
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頻率溫度特征 |
f_tem |
-0.034±0.006× 10-6/-30°C~+85°C |
超出標準的規格請聯系我們. |
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負載電容 |
CL |
6,12.5PF |
不同負載電容要求,請聯系我們. |
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串聯電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C~+85°C, DL = 100μW |
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頻率老化 |
f_age |
±3× 10-6/year Max. |
+25°C,第一年 |
這些晶振知識介紹是指，金屬面晶振在產品上線之后發生不良品或者沒反應的情況下，自檢辦法。石英晶振如果在電路上的功能不規則或根本無法全部晶振找出得到了應用操作，請使用以下的清單找出可能存在的問題。請按照確定的因素和可能的解決方案的說明。我們從晶振使用輸出無信號開始尋找相關問題。GEYER晶振,貼片晶振,KX-327S晶振,石英進口晶振
我們可以先使用示波器或者頻率計數器來檢查石英晶體諧振器終端的兩個信號，如果沒有信號輸出，請按照步驟1-1到1-4步執行檢查。如果有從石英晶振（XOUT）的輸出端子的輸出信號，而是從在終端（辛）輸出沒有信號，請檢查石英晶振體以下step1-5到步驟1-6。
你可以先把晶體卸載下來并測試石英進口晶振的頻率和負載電容，看看他們是否能振動，也可以使用專業的石英晶體測試儀器來檢測 。如果你沒法檢測你也可以將不良品發送給我公司，我們檢測分析之后告訴你結果。如果有下列情況發生，晶振不起振，首先你先查看你產品上使用的負載電容CL是否對，是否跟你的線路相匹配，或者是晶振的精度是否符合你的要求，或者你可以把產品發送回我公司分析。如果晶振頻率和負載電容跟要求相對應的話，我們將需要進行等效電路測試。比如等效電路測試如下：陶瓷面封裝晶振,32.768KHZ頻點晶體,KX-327S晶振
負載電容:如果振蕩電路中負載電容的不同，可能導致進口石英貼片晶振振蕩頻率與設計頻率之間產生偏差，如下圖所示。電路中的負載電容的近似表達式 CL≒CG × CD / （CG+CD） + CS。其中CS表示電路的雜散電容。GEYER晶振,貼片晶振,KX-327S晶振,石英進口晶振
測試條件:(1)電源電壓:超過 150µs，直到電壓級別從 0 %達到 90 % 。電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。(2)其他:輸入電容低于 15 pF5倍頻率范圍或更多測量頻率。鉛探頭應盡可能短。測量8038貼片晶振頻率時，探頭阻抗將高于 1MΩ。當波形經過振蕩器的放大器時，可同時進行測量。(3)其他:CL包含探頭電容。應使用帶有小的內部阻抗的電表。使用微型插槽，以觀察波形。（請勿使用該探頭的長接地線）.
振蕩頻率測量:必須盡可能地測量安裝在32.768K低頻石英晶振電路上的的振蕩頻率的真實值，使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中，通常使用探頭和頻率計數器。然而,我們的目標是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。有三種頻率測量模式，如下面的圖所示（圖）。2, 3和4）。最精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現的。
接觸振蕩電路:探針不影響圖2，因為緩沖器的輸出是通過32.768K音叉型晶體輸入振蕩電路的輸出來測量的。逆變器進入下一階段。探針不影響圖3，因為在IC上測量緩沖器輸出（1/1、1/2等）。圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況，由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。輸出點之間的電容（3 pF以下XTAL終端IC）和探針。然而，應該注意到，使用這種方法輸出波形較小，測量不能依賴于即使示波器能檢查振蕩波形，頻率計數器的靈敏度也可以。在這種情況下，使用放大器來測量。陶瓷面封裝晶振,32.768KHZ頻點晶體,KX-327S晶振
公司名：深圳市金洛鑫電子有限公司
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JLX-PD
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