QANTEK晶振的供應(yīng)渠道組織高效實(shí)用。所有的銷售，工程和管理職能都在Ft。美國佛羅里達(dá)州勞德代爾市。亞洲，歐洲和中東國家的直接產(chǎn)品來自位于德國和香港的三個(gè)分銷中心之一。所有北美（包括加拿大）和南美的貨物都由我們的Ft處理。除非客戶另有要求，否則佛羅里達(dá)州勞德代爾設(shè)施。銷售代表和分銷商戰(zhàn)略性地位于世界各地，并提供本地技術(shù)和產(chǎn)品支持。
    QANTEK為每位客戶分配一位作為主要聯(lián)系人的客戶經(jīng)理，負(fù)責(zé)開發(fā)QANTEK資源的業(yè)務(wù)關(guān)系以滿足每位客戶的需求。通過此系統(tǒng)，QANTEK可以保持強(qiáng)大的客戶關(guān)系，而響應(yīng)式服務(wù)和支持最重要。QANTEK希望成為您首選的進(jìn)口晶振頻率管理產(chǎn)品供應(yīng)商.進(jìn)口無源諧振器,小體積3225晶振,QC32晶振

      QANTEK晶振,貼片晶振,QC32晶振,無源進(jìn)口晶振,超小型表面貼片型SMD晶振,最適合使用在汽車電子領(lǐng)域中,也是特別要求高可靠性的引擎控制用CPU的時(shí)鐘部分.低頻晶振可從10MHz起對(duì)應(yīng),小型,超薄型具備強(qiáng)防焊裂性,石英晶體在極端嚴(yán)酷的環(huán)境條件下也能發(fā)揮穩(wěn)定的起振特性,產(chǎn)品本身具有耐熱,耐振,耐撞擊等優(yōu)良的耐環(huán)境特性,滿足無鉛焊接以及高溫回流溫度曲線要求,符合AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn).

    石英晶振曲率半徑加工技術(shù)：晶振晶片在球筒倒邊加工時(shí)應(yīng)用到的加工技術(shù)，主要是研究滿足不同曲率半徑石英晶振晶片設(shè)計(jì)可使用的方法。如：1、是指球面加工曲率半徑的工藝設(shè)計(jì)（ a、球面的余弦磨量； b、球面的均勻磨量；c、球面加工曲率半徑的配合）2、在加工時(shí)球面測量標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)原則（曲率半徑公式的計(jì)算）。進(jìn)口無源諧振器,小體積3225晶振,QC32晶振

    這些晶振知識(shí)介紹是指，金屬面晶振在產(chǎn)品上線之后發(fā)生不良品或者沒反應(yīng)的情況下，自檢辦法。石英晶振如果在電路上的功能不規(guī)則或根本無法全部晶振找出得到了應(yīng)用操作，請(qǐng)使用以下的清單找出可能存在的問題。請(qǐng)按照確定的因素和可能的解決方案的說明。我們從晶振使用輸出無信號(hào)開始尋找相關(guān)問題。QANTEK晶振,貼片晶振,QC32晶振,無源進(jìn)口晶振
      我們可以先使用示波器或者頻率計(jì)數(shù)器來檢查石英4腳晶體終端的兩個(gè)信號(hào)，如果沒有信號(hào)輸出，請(qǐng)按照步驟1-1到1-4步執(zhí)行檢查。如果有從石英晶振（XOUT）的輸出端子的輸出信號(hào)，而是從在終端（辛）輸出沒有信號(hào)，請(qǐng)檢查石英晶振體以下step1-5到步驟1-6。

     你可以先把晶體卸載下來并測試石英進(jìn)口晶振的頻率和負(fù)載電容，看看他們是否能振動(dòng)，也可以使用專業(yè)的石英晶體測試儀器來檢測 。如果你沒法檢測你也可以將不良品發(fā)送給我公司，我們檢測分析之后告訴你結(jié)果。如果有下列情況發(fā)生，晶振不起振，首先你先查看你產(chǎn)品上使用的負(fù)載電容CL是否對(duì)，是否跟你的線路相匹配，或者是晶振的精度是否符合你的要求，或者你可以把產(chǎn)品發(fā)送回我公司分析。如果晶振頻率和負(fù)載電容跟要求相對(duì)應(yīng)的話，我們將需要進(jìn)行等效電路測試。比如等效電路測試如下：進(jìn)口無源諧振器,小體積3225晶振,QC32晶振

    負(fù)載電容:如果振蕩電路中負(fù)載電容的不同，可能導(dǎo)致3225體積貼片晶振振蕩頻率與設(shè)計(jì)頻率之間產(chǎn)生偏差，如下圖所示。電路中的負(fù)載電容的近似表達(dá)式 CL≒CG × CD / （CG+CD） + CS。其中CS表示電路的雜散電容。QANTEK晶振,貼片晶振,QC32晶振,無源進(jìn)口晶振

       測試條件:(1)電源電壓:超過 150µs，直到電壓級(jí)別從 0 %達(dá)到 90 % 。電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。(2)其他:輸入電容低于 15 pF5倍頻率范圍或更多測量頻率。鉛探頭應(yīng)盡可能短。測量四腳貼片石英晶振頻率時(shí)，探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過振蕩器的放大器時(shí)，可同時(shí)進(jìn)行測量。(3)其他:CL包含探頭電容。應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。使用微型插槽，以觀察波形。（請(qǐng)勿使用該探頭的長接地線）.

       振蕩頻率測量:必須盡可能地測量安裝在小型無源貼片晶振電路上的的振蕩頻率的真實(shí)值，使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中，通常使用探頭和頻率計(jì)數(shù)器。然而,我們的目標(biāo)是通過限制測量工具對(duì)振蕩電路本身的影響來測量。有三種頻率測量模式，如下面的圖所示（圖）。2, 3和4）。最精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實(shí)現(xiàn)的。
      接觸振蕩電路:探針不影響圖2，因?yàn)榫彌_器的輸出是通過進(jìn)口3225晶振輸入振蕩電路的輸出來測量的。逆變器進(jìn)入下一階段。探針不影響圖3，因?yàn)樵贗C上測量緩沖器輸出（1/1、1/2等）。圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況，由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。輸出點(diǎn)之間的電容（3 pF以下XTAL終端IC）和探針。然而，應(yīng)該注意到，使用這種方法輸出波形較小，測量不能依賴于即使示波器能檢查振蕩波形，頻率計(jì)數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下，使用放大器來測量。進(jìn)口無源諧振器,小體積3225晶振,QC32晶振

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