常規溫度狀態下晶振可推測的穩定性及測量儀器
業內的人都知道,晶振的溫度范圍是一個很重要的參數,不同的晶振可支持的溫度也不一樣,測試時如果超過晶體本身可承受的最高溫度,那么這顆貼片晶振或者插件晶振很可能會不起振。通常SMD晶體要比DIP插件更耐高溫,所以現在圓柱晶振和49S插件晶體逐漸被貼片石英晶振代替。而晶振只有在常溫的條件下,才能發揮最好的振蕩功能,常用的測量儀器設備主要有波形量測與和頻譜分析頻率響應。以下是晶振廠家金洛鑫電子提供的晶振常溫條件下穩定性判斷技術性資料。
一、常溫產品特性:
常溫產品特性有時也稱為室溫產品特性,一般是指無源晶振在環境溫度為25℃,相對濕度為50%左右時所測量出來的電性能參數,主要是頻率,電阻,激勵功率相關性及電容比等指標。
1.1、對于一條相對成熟的生產線來說,貼片晶振在常溫下的頻率穩定性一般不會出現問題,比較常見的是產品的一致性(散差),尤其是高頻的小公差產品一致性往往不如人意。一致性考慮是多個產品的頻率公差,在測試系統中,觀察FL的正態分布圖可以很直觀的了解產品的一致,也可以使用儀器測試系統中的CPK計算功能,通過CPK來衡量產品的一致性。
1.2、常溫下石英晶振的頻率主要是觀察其穩定性與一致性。穩定性是相對于單個產品而言,一方面要求產品在測試儀上重復測試時,頻率變化量要小,好產品頻率變化量可以小于±0.5ppm,與產品頻率高低及TS大小有關,一般情況下,頻率越高變化量越大,TS越大變化量越大,測量指標一般是FL,若是FR則不存在TS的問題;另一方面要求產品在電路中工作時不出現頻率漂移,也就是說產品頻率不要跑到幾百甚至幾千ppm去,一般情況下只有高頻(27M以上)石英貼片晶振才會有這個問題,尤其是3RD產品。如果頻率不穩定,偏移的幅度上百ppm或同時伴有C0偏小現象,應考慮膠點是否松動。
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公司名:深圳市金洛鑫電子有限公司
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