當前位置：首頁 » 技術支持 » Wenzel Crystal特殊的測試要求及原理分析

Wenzel Crystal特殊的測試要求及原理分析

來源：金洛鑫瀏覽：- 發布日期：2020-05-22 10:30:36【大中小】

分享到：

具有壓電效應晶振是一種比較復雜的電子元器件,不止是因為它的類型多和型號多,研發和制造一顆完整的石英晶振的步驟和技術非常的多,而且大多要求比較嚴格.因為晶體是對產品非常重要的一種元器件,如果質量存在問題,會導致產品使用不正常,將會是很大的損失.通常,制造商會對精密振蕩器進行單獨測試,以測試其在時間和溫度范圍內的頻率漂移,輸出電平和雜散信號,相位噪聲(如果指定),調諧范圍和預熱特性,可以針對各種要求執行其他測試,包括:

沖擊和振動測試:

經常對單元進行測試,以確保其在殘酷環境中的生存能力,并確定存在振動時的性能下降.指定的振動通常是隨機的,表示為功率譜密度,但偶爾會調用正弦振動.Wenzel晶振具有內部測量振動引起的相位噪聲的能力.

高度和空間測試:

可以在真空室中測試振蕩器,以確定低壓的不利影響以及相應的導熱系數下降.Wenzel Associates具有內部能力,可以在溫度低至10微托的情況下測試小型石英晶體振蕩器.

Wenzel Crystal特殊的測試要求及原理分析

熱沖擊:

振蕩器通常在沒有施加動力來發現機械缺陷的情況下會經受幾次極端溫度波動,烤箱振蕩器,尤其是燒瓶絕緣設計,在一定程度上不受熱沖擊的影響,因為烤箱通常具有顯著的熱質量,可以很好地與周圍環境隔離.因此,如果測試執行得太快,很多有源晶振電路可能不會看到快速的溫度變化甚至極端溫度,熱沖擊測試還可以包含啟動測試,以確保振蕩器在極端溫度下啟動.